ФРАКТАЛЬНА ГЕОМЕТРІЯ ПОВЕРХНІ ГЕТЕРОСТРУКТУР CdX Hg1XTe - Zn0.04Cd0.96Te , ЩО СФОРМОВАНІ ОСАДЖЕННЯМ З РІДКОЇ ФАЗИ

Abstract

Методами атомно-силової мікроскопії (AFМ-спектроскопія) досліджена поверхня гетероструктури CdXHg1XTe - Zn0.04Cd0.96Te , що сформована осадженням шарів з рідкої фази. Оцифроване зображення поверхні оброблялося методами мультифрактального аналізу. Обчислені мультифрактальні параметри, що характеризують стан поверхні структури (числа Реньї та мультифрактальні міри упорядкування). Виявлена фрактальна симетрія (Ф-симетрія) поверхні гетероструктури. Порівняння величин мультифрактальних параметрів шарів, які досліджено в роботі, з аналогічними параметрами високоякісних структур на основі напівпровідникових нітридів А3В5, показало меншу величину мультифрактальної міри впорядкованості структури поверхні гетерокомпозиції. Застосування фрактальної геометрії до оцінок вільної поверхневої енергії Гіббса фази показало, що використання такої геометрії відкриває можливість домогтися обмеження по величині поверхневих термодинамічних функцій системи, які в рамках класичної геометрії, катастрофічно швидко зростають по мірі зменшення розмірів частинок середовищ, що беруть участь у міжфазній взаємодії.