Electronic Repository

Високоякісні епітаксійні плівки CdZnTe для напівпровідникової оптоелектроніки: синтез і властивості

Show simple item record

dc.contributor.author Рашковецький, Любомир Васильович
dc.contributor.author Пляцко, Сергій Володимирович
dc.contributor.author Москвін, Павло Петрович
dc.contributor.author Добряков, Володимир Львович
dc.contributor.author Скиба, Галина Віталіївна
dc.contributor.author Rashkovetskyi, L.V.
dc.contributor.author Plyatsko, S.V.
dc.contributor.author Moskvin, P.P.
dc.contributor.author Dobryakov, V.L.
dc.contributor.author Skyba, G.V.
dc.date.accessioned 2018-06-27T08:15:58Z
dc.date.available 2018-06-27T08:15:58Z
dc.date.issued 2018
dc.identifier.uri http://eztuir.ztu.edu.ua/123456789/7382
dc.description.abstract Методом рідиннофазної епітаксії отримано високоякісні плівки CdZnTe різного складу. Синтез відбувався при наднизьких температурах (500–530ºС) з телурового розчину. Проаналізовано кінетику росту епітаксійних плівок. Досліджено властивості вирощених плівок методами оптичної мікроскопії, рентгенівської дифрактометрії, Оже-спектроскопії, низькотемпературної фотолюмінесценції. Надано залежність мікротвердості від складу отриманих плівок. uk_UA
dc.language.iso uk uk_UA
dc.publisher ЖДТУ uk_UA
dc.relation.ispartofseries Вісник ЖДТУ.Серія: Технічні науки;1(81)
dc.subject рідиннофазна епітаксія uk_UA
dc.subject напівпровідникові плівки CdZnTe uk_UA
dc.subject морфологія поверхні uk_UA
dc.subject напівширина кривої гойдання uk_UA
dc.subject низькотемпературна фотолюмінесценція uk_UA
dc.subject мікротвердість uk_UA
dc.subject liquid phase epitaxy uk_UA
dc.subject CdZnTe films uk_UA
dc.subject surface morphology uk_UA
dc.subject low temperature photoluminescence uk_UA
dc.subject microhardness uk_UA
dc.title Високоякісні епітаксійні плівки CdZnTe для напівпровідникової оптоелектроніки: синтез і властивості uk_UA
dc.title.alternative High quality CdZnTe epitaxial films: growth and properties uk_UA
dc.type Article uk_UA
dc.description.abstracten High-quality CdZnTe films of different compositions were obtained by liquid phase epitaxy. Growth occurred at low temperatures (500–530º C) from the tellurium solution. The growth kinetic of epitaxial films is analyzed. The properties of grown films by the methods of optical microscopy, X-ray diffractometry, Auger spectroscopy, and low-temperature photoluminescence are studied. The dependence of the microhardness on the composition of the resulting films is presented for the first time. uk_UA


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Browse

My Account