МАТЕМАТИЧНЕ МОДЕЛЮВАННЯ МУЛЬТИФРАКТАЛЬНИХ СТАНІВ ПОВЕРХНІ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ СТРУКТУР ZnCdTe – КРЕМНІЄВА ПІДКЛАДКА

Москвін, П.П.; Крижанівський, В.Б.; Омелянчук, С.А.; Рашковецький, Л.В.; Литвин, П.М.; Вуйчик, М.В.; Moskvin, P.P.; Kryzhanivskyy, V.B.; Omelyanchuk, S.A.; Rashkovetsky, L.V.; Lytvyn, P.M.; Vujchyk, М.V.

dc.contributor.author	Москвін, П.П.
dc.contributor.author	Крижанівський, В.Б.
dc.contributor.author	Омелянчук, С.А.
dc.contributor.author	Рашковецький, Л.В.
dc.contributor.author	Литвин, П.М.
dc.contributor.author	Вуйчик, М.В.
dc.contributor.author	Moskvin, P.P.
dc.contributor.author	Kryzhanivskyy, V.B.
dc.contributor.author	Omelyanchuk, S.A.
dc.contributor.author	Rashkovetsky, L.V.
dc.contributor.author	Lytvyn, P.M.
dc.contributor.author	Vujchyk, М.V.
dc.date.accessioned	2016-04-07T13:45:19Z
dc.date.available	2016-04-07T13:45:19Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.uri	http://eztuir.ztu.edu.ua/123456789/2650
dc.description.abstract	Виконано моделювання мультифрактальних станів поверхневого рельєфу напівпровідникових структур твердий розчин ZnCdTe – підкладка із кремнію. Як вхідні дані для аналізу використані дані атомно-силової мікроскопії (AFМ –спектроскопії). Цифрове зображення поверхні оброблено методами мультифрактального аналізу. Запропонована обчислювальна методика обробки просторових даних за площею поверхні шарів. Розраховано мультифрактальні спектри поверхні шарів вказаної системи твердих розчинів. Знайдені кореляційні залежності між параметрами мультифрактального спектра та технологічними умовами синтезу шарів.	uk_UA
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.publisher	ЖДТУ	uk_UA
dc.relation.ispartofseries	Вісник ЖДТУ. Серія: Технічні науки;2(65)
dc.subject	моделювання	uk_UA
dc.subject	мультифрактальний стан	uk_UA
dc.title	МАТЕМАТИЧНЕ МОДЕЛЮВАННЯ МУЛЬТИФРАКТАЛЬНИХ СТАНІВ ПОВЕРХНІ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ СТРУКТУР ZnCdTe – КРЕМНІЄВА ПІДКЛАДКА	uk_UA
dc.title.alternative	Mathematical modeling of multi-fractal surface states of semiconductor structures ZnCdTe – Silicone substrate	uk_UA
dc.type	Article	uk_UA