Please use this identifier to cite or link to this item: http://eztuir.ztu.edu.ua/123456789/2650
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМосквін, П.П.
dc.contributor.authorКрижанівський, В.Б.
dc.contributor.authorОмелянчук, С.А.
dc.contributor.authorРашковецький, Л.В.
dc.contributor.authorЛитвин, П.М.
dc.contributor.authorВуйчик, М.В.
dc.contributor.authorMoskvin, P.P.
dc.contributor.authorKryzhanivskyy, V.B.
dc.contributor.authorOmelyanchuk, S.A.
dc.contributor.authorRashkovetsky, L.V.
dc.contributor.authorLytvyn, P.M.
dc.contributor.authorVujchyk, М.V.
dc.date.accessioned2016-04-07T13:45:19Z
dc.date.available2016-04-07T13:45:19Z
dc.date.issued2013
dc.identifier.urihttp://eztuir.ztu.edu.ua/123456789/2650
dc.description.abstractВиконано моделювання мультифрактальних станів поверхневого рельєфу напівпровідникових структур твердий розчин ZnCdTe – підкладка із кремнію. Як вхідні дані для аналізу використані дані атомно-силової мікроскопії (AFМ –спектроскопії). Цифрове зображення поверхні оброблено методами мультифрактального аналізу. Запропонована обчислювальна методика обробки просторових даних за площею поверхні шарів. Розраховано мультифрактальні спектри поверхні шарів вказаної системи твердих розчинів. Знайдені кореляційні залежності між параметрами мультифрактального спектра та технологічними умовами синтезу шарів.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherЖДТУuk_UA
dc.relation.ispartofseriesВісник ЖДТУ. Серія: Технічні науки;2(65)
dc.subjectмоделюванняuk_UA
dc.subjectмультифрактальний станuk_UA
dc.titleМАТЕМАТИЧНЕ МОДЕЛЮВАННЯ МУЛЬТИФРАКТАЛЬНИХ СТАНІВ ПОВЕРХНІ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ СТРУКТУР ZnCdTe – КРЕМНІЄВА ПІДКЛАДКАuk_UA
dc.title.alternativeMathematical modeling of multi-fractal surface states of semiconductor structures ZnCdTe – Silicone substrateuk_UA
dc.typeArticleuk_UA
Appears in Collections:Вісник ЖДТУ. Серія: Технічні науки

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
16.pdf624.97 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.