Москвін, П.П.; Гутніченко, О.А.; Крижанівський, В.Б.; Рашковецький, Л.В.; Moskvin, P.P.; Gutnichenko, А.А.; Kryzhanivskyy, V.B.; Rashkovetsky, L.V.
(ЖДТУ, 2012)
Методами атомно-силової мікроскопії (AFМ-спектроскопія) досліджена поверхня
гетероструктури CdXHg1XTe - Zn0.04Cd0.96Te , що сформована осадженням шарів з рідкої фази.
Оцифроване зображення поверхні оброблялося методами ...