dc.contributor.author |
Рашковецький, Любомир Васильович |
|
dc.contributor.author |
Пляцко, Сергій Володимирович |
|
dc.contributor.author |
Москвін, Павло Петрович |
|
dc.contributor.author |
Добряков, Володимир Львович |
|
dc.contributor.author |
Скиба, Галина Віталіївна |
|
dc.contributor.author |
Rashkovetskyi, L.V. |
|
dc.contributor.author |
Plyatsko, S.V. |
|
dc.contributor.author |
Moskvin, P.P. |
|
dc.contributor.author |
Dobryakov, V.L. |
|
dc.contributor.author |
Skyba, G.V. |
|
dc.date.accessioned |
2018-06-27T08:15:58Z |
|
dc.date.available |
2018-06-27T08:15:58Z |
|
dc.date.issued |
2018 |
|
dc.identifier.uri |
http://eztuir.ztu.edu.ua/123456789/7382 |
|
dc.description.abstract |
Методом рідиннофазної епітаксії отримано високоякісні плівки CdZnTe різного складу. Синтез відбувався при наднизьких температурах (500–530ºС) з телурового розчину. Проаналізовано кінетику росту епітаксійних плівок. Досліджено властивості вирощених плівок методами оптичної мікроскопії, рентгенівської дифрактометрії, Оже-спектроскопії, низькотемпературної фотолюмінесценції. Надано залежність мікротвердості від складу отриманих плівок. |
uk_UA |
dc.language.iso |
uk |
uk_UA |
dc.publisher |
ЖДТУ |
uk_UA |
dc.relation.ispartofseries |
Вісник ЖДТУ.Серія: Технічні науки;1(81) |
|
dc.subject |
рідиннофазна епітаксія |
uk_UA |
dc.subject |
напівпровідникові плівки CdZnTe |
uk_UA |
dc.subject |
морфологія поверхні |
uk_UA |
dc.subject |
напівширина кривої гойдання |
uk_UA |
dc.subject |
низькотемпературна фотолюмінесценція |
uk_UA |
dc.subject |
мікротвердість |
uk_UA |
dc.subject |
liquid phase epitaxy |
uk_UA |
dc.subject |
CdZnTe films |
uk_UA |
dc.subject |
surface morphology |
uk_UA |
dc.subject |
low temperature photoluminescence |
uk_UA |
dc.subject |
microhardness |
uk_UA |
dc.title |
Високоякісні епітаксійні плівки CdZnTe для напівпровідникової оптоелектроніки: синтез і властивості |
uk_UA |
dc.title.alternative |
High quality CdZnTe epitaxial films: growth and properties |
uk_UA |
dc.type |
Article |
uk_UA |
dc.description.abstracten |
High-quality CdZnTe films of different compositions were obtained by liquid phase epitaxy. Growth occurred at low temperatures (500–530º C) from the tellurium solution. The growth kinetic of epitaxial films is analyzed. The properties of grown films by the methods of optical microscopy, X-ray diffractometry, Auger spectroscopy, and low-temperature photoluminescence are studied. The dependence of the microhardness on the composition of the resulting films is presented for the first time. |
uk_UA |